标准号SJ 21262-2018状态
发布于:2018-01-18
实施于:2018-05-01
MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求基本信息
标准号:SJ 21262-2018
标准名称:MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求
英文名称:Technical requirements for MEMS inertial device chip measurement on wafer
发布部门:科技工业局
发布于:2018-01-18
实施于:2018-05-01
标准号:SJ 21262-2018
标准名称:MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求
英文名称:Technical requirements for MEMS inertial device chip measurement on wafer
发布部门:科技工业局