基于人工智能 Al 的EL自动检测系统-杨飞飞

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基于人工智能AI的EL自动检测系统由杨飞飞设计，主要用于自动检测电子元器件的电气性能。该系统利用AI算法分析电致发光（EL）图像，快速识别缺陷如裂纹、暗斑或短路，提高检测效率和准确性，减少人工干预。