浙江大学，晶硅电池高温下电注入诱导衰减和再生原理(LIDLETID)

该资料大小估算0.74MB，浙江大学，晶硅电池高温下电注入诱导衰减和再生原理(LIDLETID)共10页，pdf格式

浙江大学的研究揭示了晶硅电池在高温条件下的电注入诱导衰减（LID）与光热诱导衰减（LeTID）之间的机理联系，并提出了再生过程中缺陷钝化的关键原理。研究发现，在高温电注入条件下，电池中的体缺陷（如硼氧对或铁硼对）会先发生退化导致效率下降，随后通过形成稳定的钝化结构实现再生。该过程涉及载流子注入激活的缺陷重构和氢钝化机制，其中氢的迁移和再分布对抑制衰减至关重要。这项工作为提升晶硅电池长期稳定性提供了理论依据和工艺优化方向。