IEC 62951-1:2017 半导体器件 - 柔性和可拉伸半导体器件 - 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates 标准号：IEC 62951-1:2017 发布日期：2017-04-10
IEC 62951-1:2017