IEC 60749-37:2022 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer 标准号：IEC 60749-37:2022 发布日期：2022-10-12
IEC 60749-37:2022
IEC 60749-37:2022 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer 标准号：IEC 60749-37:2022 发布日期：2022-10-12
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