IEC 63068-3:2020 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别准则 第3部分：利用光致发光的缺陷测试方法 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence 标准号：IEC 63068-3:2020 发布日期：2020-07-13 IEC63068-3:2020的适用范围主要涉及电子设备中使用的电气绝缘系统（EIS）的评估和鉴定。该标准规定了在脉冲电压条件下对绝缘系统进行测试的方法和要求，适用于评估绝缘材料在承受快速瞬态电压应力时的性能。它特别针对那些可能遭受高频或快速上升时间电压应力的设备，如电力电子装置、变频器和其他类似应用。该标准为制造商和测试实验室提供了统一的测试程序，以确保绝缘系统在预期工作条件下的可靠性和耐久性。
IEC 63068-3:2020