IEC 60749-13:2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾试验 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere 标准号：IEC 60749-13:2018 发布日期：2018-02-15 IEC60749-13:2018标准的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在机械冲击试验中的测试条件和程序，目的是评估器件在受到机械冲击时的结构完整性和性能稳定性。它适用于各种类型的半导体器件，包括分立器件和集成电路，确保这些器件在实际应用中能够承受可能遇到的机械冲击环境。该标准为制造商和用户提供了统一的测试方法，以便评估和比较不同器件的机械冲击耐受能力。
IEC 60749-13:2018