当前位置:首页  资料内容详情

IEC 63229:2021

IEC 63229:2021 半导体器件 - 碳化硅衬底上氮化镓外延膜的缺陷分类 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate 标准号:IEC 63229:2021 发布日期:2021-04-07 IEC63229:2021标准的适用范围主要涉及直流电压不低于1500V但不超过15000V的直流配电系统用电力电缆及其附件的设计、测试和性能要求。该标准适用于固定安装的电缆系统,包括陆地或海底应用场景,旨在确保电缆在额定电压下的安全可靠运行。标准涵盖电缆结构、电气特性、机械性能、环境适应性等方面的技术要求,同时规定了型式试验、抽样试验和例行试验的测试方法。该标准不适用于移动设备用电缆或特殊环境(如核电站)中的电缆系统。

IEC 63229:2021

声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请联系站方删除。

不能下载?报告错误