IEC 60749-9:2017

IEC 60749-9:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking 标准号：IEC 60749-9:2017 发布日期：2017-03-03 IEC60749-9:2017标准适用于半导体器件机械和环境试验方法中的机械冲击试验。该标准规定了半导体器件在受到机械冲击时的试验条件和程序，用于评估器件在运输、搬运或使用过程中可能遇到的机械冲击条件下的性能和可靠性。标准适用于各种类型的半导体器件，包括分立器件和集成电路。