IEC 60749-6:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温贮存
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
标准号：IEC 60749-6:2017
发布日期：2017-03-03
IEC60749-6:2017标准适用于半导体器件在稳态湿热环境下的可靠性测试。该标准规定了半导体器件在高温高湿条件下（通常为85°C和85%相对湿度）进行测试的方法和要求，目的是评估器件在潮湿环境中的耐久性和性能稳定性。该测试主要用于模拟器件在潮湿气候条件下的长期使用情况，以验证其抵抗湿气渗透和腐蚀的能力。标准适用于各种类型的半导体器件，包括集成电路、分立器件和光电子器件等。测试结果可用于器件可靠性评估和质量控制，帮助制造商改进产品设计和生产工艺。