IEC 62779-4:2020 半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第4部分：胶囊内窥镜
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 4: Capsule endoscope
标准号：IEC 62779-4:2020
发布日期：2020-02-07
IEC62779-4:2020标准适用于半导体器件中使用的光电耦合器的测试和评估方法。该标准规定了光电耦合器在高温环境下的耐久性测试要求，包括高温工作寿命测试和高温存储寿命测试。它主要针对用于工业、消费电子和汽车电子等领域的半导体光电耦合器产品，确保这些器件在高温条件下的可靠性和性能稳定性。标准适用于制造商进行产品验证和质量控制，也可作为用户评估产品适用性的依据。