IEC 63068-4:2022

IEC 63068-4:2022 半导体器件 - 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷无损识别准则 - 第4部分：采用光学检测与光致发光相结合方法的缺陷识别与评估程序 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence 标准号：IEC 63068-4:2022 发布日期：2022-07-27 IEC63068-4:2022的适用范围主要涉及电气和电子设备中使用的绝缘材料在脉冲电压条件下的局部放电测量方法。该标准规定了测试条件和程序，适用于评估绝缘材料在高频脉冲电压下的局部放电特性，为相关产品的设计和质量控制提供技术依据。