IEC 63275-2:2022 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 第2部分：体二极管操作导致双极退化的试验方法
Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
标准号：IEC 63275-2:2022
发布日期：2022-05-11
IEC63275-2:2022标准的适用范围主要涉及半导体器件的可靠性测试方法。该标准规定了用于评估半导体器件在特定环境条件下长期可靠性的测试程序和要求，适用于各种类型的半导体元器件，包括集成电路和分立器件。它提供了统一的测试条件和评价标准，以确保不同制造商生产的半导体器件在可靠性方面具有可比性。该标准适用于半导体行业的设计、制造和质量控制环节，为产品可靠性验证提供了技术依据。