IEC 63275-1:2022 半导体器件 碳化硅分立式金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法
Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
标准号：IEC 63275-1:2022
发布日期：2022-04-21
IEC63275-1:2022标准的适用范围主要涉及电气和电子设备中使用的特定材料、组件或系统的性能要求和测试方法。该标准适用于相关产品的设计、制造和测试过程，旨在确保其安全性、可靠性和兼容性。标准内容可能包括技术规范、测试条件、评估程序等，适用于相关行业的生产商、测试机构和监管机构。具体适用范围需参考标准原文以获取详细信息。