IEC 62132-8:2012 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分：辐射抗扰度测量 - IC带状线法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
标准号：IEC 62132-8:2012
发布日期：2012-07-06
IEC62132-8:2012的适用范围是描述集成电路（IC）在射频（RF）电磁场中的抗扰度测量方法。该标准规定了使用带状线（stripline）法进行测试的具体程序和要求，适用于评估集成电路在频率范围为150kHz至1GHz的射频电磁场环境下的抗扰度性能。
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分：辐射抗扰度测量 - IC带状线法 (IEC 62132-8:2012)