集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分：非同步瞬态注入方法 (IEC 62215-3:2013)

IEC 62215-3:2013 集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分：非同步瞬态注入方法

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

标准号：IEC 62215-3:2013

发布日期：2013-07-17

IEC62215-3:2013的适用范围主要涉及集成电路的核电磁脉冲（NEMP）和瞬态辐射效应传导敏感性测试。该标准规定了针对集成电路在核电磁脉冲及瞬态辐射环境下的传导敏感性的测试方法、试验设置和程序。它适用于评估集成电路在受到此类高强度瞬态电磁干扰时的性能表现与耐受能力，为相关电子设备在严苛电磁环境下的可靠性与鲁棒性设计提供测试依据。