IEC 60747-2:2016 半导体器件 - 第2部分:分立器件 - 整流二极管
Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes
标准号:IEC 60747-2:2016
发布日期:2016-04-13
IEC60747-2:2016的适用范围主要涵盖分立半导体器件和集成电路的测试方法及基本额定值。该标准规定了相关器件的电学、热学及机械特性测试程序,并定义了其工作条件、极限参数和性能指标,以确保器件在特定应用中的可靠性和一致性。它适用于二极管、晶体管、晶闸管等分立器件以及部分集成电路,为制造商和用户提供了统一的测试与评估依据。
半导体器件 - 第2部分:分立器件 - 整流二极管 (IEC 60747-2:2016)