IEC 60747-3:2013 半导体器件 - 第3部分：分立器件：信号、开关和稳压二极管
Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes
标准号：IEC 60747-3:2013
发布日期：2013-07-09
IEC60747-3:2013的适用范围主要涵盖半导体分立器件和模块的测试方法及通用要求。该标准规定了分立半导体器件（如二极管、晶体管、晶闸管等）以及由多个分立器件组成的模块在电气特性、热性能、机械和环境试验等方面的基本测试程序与条件。它适用于器件制造商、测试实验室及相关行业，用于确保分立半导体器件和模块的性能、可靠性及安全性符合统一的技术规范，并为产品设计、质量控制和认证提供依据。该标准不适用于集成电路（IC）或光电子器件，这些器件由IEC60747系列的其他部分专门规定。
半导体器件 - 第3部分：分立器件：信号、开关和稳压二极管 (IEC 60747-3:2013)