电工产品中特定物质的测定——第4部分：通过CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物、金属及电子件中的汞 (IEC 62321-4:2013)

IEC 62321-4:2013 电工产品中特定物质的测定——第4部分：通过CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物、金属及电子件中的汞

Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS

标准号：IEC 62321-4:2013

发布日期：2013-06-19

IEC62321-4:2013的适用范围如下：本部分规定了采用冷蒸气原子吸收光谱法（CVAAS）、冷蒸气原子荧光光谱法（CVAFS）、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）和电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定聚合物、金属和电子件中汞含量的方法。样品经合适的酸消解后，采用上述技术之一进行测定。本部分适用于电子电气产品中各种材料汞含量的测定。