多晶PERC电池抗LeTID研究进展及相关测试标准

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多晶PERC电池在长期运行中容易出现光致衰减（LeTID）问题，严重影响组件性能与寿命。该领域的研究进展主要围绕LeTID的机理分析，包括氢钝化失效、缺陷形成与重组等，以及通过优化工艺如低温退火、双面钝化和掺杂调整来抑制衰减。同时，相关测试标准逐步建立，集中在加速老化测试（湿热、光浸泡等）和再生处理后的效率恢复评估，旨在统一衰减判定指标与测试条件，为产业规模化应用提供依据。