IEC 60749-28:2022 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试 - 充电器件模型（CDM） - 器件级
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
标准号：IEC 60749-28:2022
发布日期：2022-03-01
IEC60749-28:2022标准适用于半导体器件主要规定了半导体器件在湿热环境下的可靠性测试方法特别是非密封型半导体器件在高温高湿条件下的耐久性评估该标准适用于评估器件在潮湿环境中抵抗湿气渗透和腐蚀的能力为半导体器件的环境适应性提供测试依据适用于各种类型的半导体器件包括分立器件和集成电路但不适用于密封型器件或气密性封装器件的测试