IEC 60749-26:2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM） Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) 标准号：IEC 60749-26:2018 发布日期：2018-01-15 IEC60749-26:2018标准的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在稳态温度湿度偏压条件下的耐久性测试方法，用于评估器件在高湿度和高温环境下的可靠性性能。它适用于各种类型的半导体器件，包括分立器件和集成电路，旨在验证这些器件在特定环境条件下的长期稳定性和可靠性。该标准为制造商和用户提供了一种统一的测试方法，以确保半导体器件在实际应用中的性能和质量满足要求。
IEC 60749-26:2018