IEC 60749-4:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：稳态湿热 高加速应力试验(HAST)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准号：IEC 60749-4:2017
发布日期：2017-03-03
IEC60749-4:2017标准的适用范围主要涉及半导体器件的环境测试方法。该标准具体规定了半导体器件在湿热环境下的耐久性测试要求，包括稳态湿热测试（非偏置）和稳态湿热测试（偏置）两种测试条件。它适用于评估半导体器件在高湿度环境下的可靠性和性能稳定性，确保器件在实际应用环境中能够满足预期的使用寿命和功能要求。该标准为半导体制造商和用户提供了统一的测试方法和评价依据，适用于各类半导体器件的湿热环境可靠性验证。