IEC 60749-3:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
标准号：IEC 60749-3:2017
发布日期：2017-03-03
IEC60749-3:2017标准的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准规定了半导体器件在机械冲击、恒定加速度、振动等机械应力条件下的测试要求，以及在高低温、湿热等气候环境条件下的试验方法。它适用于评估半导体器件在预期使用环境中可能遇到的机械和气候条件下的可靠性和耐久性。该标准为半导体器件的设计、生产和应用提供了统一的测试依据，确保器件在实际应用中能够满足相应的性能和质量要求。