IEC 60749-41:2020 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第41部分：非易失性存储器器件的标准可靠性测试方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
标准号：IEC 60749-41:2020
发布日期：2020-07-22
IEC60749-41:2020是国际电工委员会（IEC）发布的半导体器件标准，属于机械和气候试验方法系列标准的一部分。该标准主要适用于半导体器件的可靠性测试，具体规定了半导体器件在恒定加速度条件下的机械应力试验方法，用于评估器件在高机械应力环境下的结构完整性和性能稳定性。其适用范围包括但不限于各类分立半导体器件、集成电路（IC）及其他电子元件，适用于产品研发、质量验证及可靠性评估等环节，尤其针对可能暴露于高加速度环境（如航空航天、汽车电子等领域）的器件。该标准为制造商和用户提供了统一的测试条件和判定依据，确保器件在机械应力条件下的可靠性符合行业要求。