石英晶体元件参数的测量 - 第7部分：石英晶体元件的活性和频率凹陷测量 (IEC 60444-7:2004)

IEC 60444-7:2004 石英晶体元件参数的测量 - 第7部分：石英晶体元件的活性和频率凹陷测量

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units

标准号：IEC 60444-7:2004

发布日期：2004-04-05

IEC60444-7:2004的适用范围为：本标准规定了采用π型网络零相位法测量石英晶体元件等效参数的方法，主要适用于频率在200kHz至1GHz范围内的石英晶体谐振器，特别是用于确定其谐振频率、等效电阻、动态电容、动态电感及品质因数等关键参数。该标准适用于晶体制造、检验及电路设计中的参数测量，确保测量结果的一致性与可比性。