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石英晶体元件参数测量 - 第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量 (IEC 60444-9:2007)

IEC 60444-9:2007 石英晶体元件参数测量 - 第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units

标准号:IEC 60444-9:2007

发布日期:2007-02-20

IEC60444-9:2007的适用范围为:本标准规定了采用网络分析仪法测量石英晶体元件等效电路参数(动态电容C1、动态电感L1、动态电阻R1和静态电容C0)的方法。该方法适用于在制造过程、质量控制和最终产品测试中对石英晶体元件(特别是频率范围为1MHz至200MHz的基频晶体)进行精确参数测量。

石英晶体元件参数测量 - 第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量 (IEC 60444-9:2007)

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