半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第2部分：接口性能表征 (IEC 62779-2:2016)

IEC 62779-2:2016 半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第2部分：接口性能表征

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances

标准号：IEC 62779-2:2016

发布日期：2016-02-18

IEC62779-2:2016适用于评估和测试半导体器件（特别是集成电路）在特定环境条件下的电迁移可靠性，主要针对用于汽车、工业及其他高可靠性应用领域的电子元件。该标准规定了测试方法、条件及失效判据，以确保器件在长期使用中满足耐久性与性能要求。