集成电路 - 电磁发射测量 - 第1部分：通用条件和定义 (IEC 61967-1:2018)

IEC 61967-1:2018 集成电路 - 电磁发射测量 - 第1部分：通用条件和定义

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions

标准号：IEC 61967-1:2018

发布日期：2018-12-12

IEC61967-1:2018的适用范围如下：本标准规定了集成电路（IC）电磁发射测量的一般条件和定义，适用于频率范围通常为150kHz至1GHz（根据具体测量方法，可扩展至更高或更低频率）的电磁发射测试。它提供了集成电路电磁发射测试的通用背景、标准测试条件以及测试报告的要求，为后续各部分（IEC61967-2至IEC61967-8）中所述的具体测量方法建立了统一框架。本标准适用于对集成电路进行电磁发射特性评估和比较，旨在为集成电路设计者、制造商、测试实验室及系统集成商提供一致的测试方法基础。