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半导体器件上锡及锡合金表面处理层的锡须敏感性环境验收要求 (IEC 62483:2013)

IEC 62483:2013 半导体器件上锡及锡合金表面处理层的锡须敏感性环境验收要求

Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices

标准号:IEC 62483:2013

发布日期:2013-09-25

IEC62483:2013的适用范围如下:本标准规定了电磁兼容(EMC)抗扰度要求,适用于频率范围在0Hz至400GHz的电气和电子设备。它主要针对在居住、商业和轻工业环境中使用的设备,确保其在典型电磁环境下能正常工作而不受干扰。标准涵盖了设备的抗扰度测试方法、性能判据以及测试结果的评估,但不适用于那些已有特定产品标准或已有明确抗扰度要求的设备。此外,本标准也不适用于汽车电子、医疗设备或航空电子等有专门EMC标准的领域。其目的是为设备制造商、测试实验室和相关机构提供统一的抗扰度测试和符合性评估框架。

半导体器件上锡及锡合金表面处理层的锡须敏感性环境验收要求 (IEC 62483:2013)

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