半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法 (GB/T 4937.40-2025)

标准号GB/T 4937.40-2025状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法基本信息

标准号：GB/T 4937.40-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北工诺检测技术有限公司、深圳市金泰克半导体有限公司、合肥德宽信息技术有限责任公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、湖北华远检测技术有限公司。

主要起草人 赵海龙 、聂丛伟 、李创锋 、彭浩 、高东阳 、张魁 、尹丽晶 、冉红雷 、王英程 、李敏 、顾小平 、黄伟 、辛长林 、宁仁祥 、唐力 、朱玉珂 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法 (GB/T 4937.40-2025)