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半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件 (GB/T 4937.10-2025)

标准号GB/T 4937.10-2025状态

发布于:2025-12-31

实施于:2026-07-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件基本信息

标准号:GB/T 4937.10-2025

标准类别:方法

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.080.01 31 电子学,31.080 半导体分立器件,31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、深圳华海达科技有限公司、广州市爱浦电子科技有限公司、广东力德诺电子科技有限公司、苏州海光芯创光电科技股份有限公司、东莞市科佳电路有限公司、江西鸿利光电有限公司。

主要起草人 王琪 、谢宝琳 、王爽 、薛涛 、梁旦新 、胡朝阳 、廖发盆 、李义园 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件 (GB/T 4937.10-2025)

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