标准号GB/T 4937.8-2025状态
发布于：2025-12-31
实施于：2026-07-01
半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封基本信息
标准号：GB/T 4937.8-2025
标准类别：方法
中国标准分类号：L40
国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、江苏韩电电器有限公司、苏州海光芯创光电科技股份有限公司、阿母芯微电子技术（中山）有限公司、青岛金汇源电子有限公司。
主要起草人 罗晓羽 、孙明 、甘鑫涛 、胡朝阳 、薛冬英 、程文娟 。
半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封 (GB/T 4937.8-2025)
