半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性 (GB/T 4937.9-2026)

标准号GB/T 4937.9-2026状态

发布于：2026-02-27

实施于：2026-09-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性基本信息

标准号：GB/T 4937.9-2026

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所。

主要起草人 王琪 、李博 、高见头 、张娜 、马睿彤 、席善斌 、虞勇坚 、尹丽晶 、吕栋 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性 (GB/T 4937.9-2026)