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半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 (GB/T 47239.8-2026)

标准号GB/T 47239.8-2026状态

发布于:2026-02-27

实施于:2026-09-01

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法基本信息

标准号:GB/T 47239.8-2026

标准类别:方法

中国标准分类号:L55

国际标准分类号: 31.080.99 31 电子学,31.080 半导体分立器件,31.080.99 其他半导体分立器件

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 上海复旦微电子集团股份有限公司、复旦大学、之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人 沈磊 、孙建军 、俞剑 、刘山佳 、王明 、时拓 、崔波 、陈海蓉 、张丽静 。

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 (GB/T 47239.8-2026)

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