半导体X射线能谱仪的标准测试规程 (IEC 60759:1983)

IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准测试规程 Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers 标准号：IEC 60759:1983 发布日期：1983-01-01 IEC60759:1983标准适用于对半导体X射线能谱仪进行性能测试和评估。该标准规定了测试方法、性能参数及技术要求，旨在确保此类仪器在X射线能谱分析中的准确性和可靠性，主要面向制造商、检测实验室及相关技术领域的使用者。