IEC 60748-4:1997 半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits 标准号:IEC 60748-4:1997 发布日期:1997-04-23 IEC60748-4:1997的适用范围如下:本部分适用于半导体器件,具体规定了半导体集成电路中数字集成电路的测试方法和通用规范。它涵盖了数字集成电路(如微处理器、存储器、逻辑电路等)在电气特性、功能验证、环境试验及可靠性评估方面的要求,适用于集成电路的设计、制造、测试和应用过程中的质量保证与性能验证。
半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 (IEC 60748-4:1997)