半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第7部分：内部湿气含量测量及其他残留气体分析 (IEC 60749-7:2011)

IEC 60749-7:2011 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第7部分：内部湿气含量测量及其他残留气体分析

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

标准号：IEC 60749-7:2011

发布日期：2011-06-17

IEC60749-7:2011的适用范围主要涵盖半导体器件的机械和气候试验方法，具体包括对器件进行机械冲击、恒定加速度、振动等机械环境应力试验，以及温度循环、湿热、稳态湿热等气候环境应力试验，用于评估半导体器件在预期使用环境下的机械坚固性和气候环境适应性。该标准适用于分立半导体器件和集成电路，为相关试验提供统一的测试程序和验收标准。