集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第2部分：辐射发射测量 - TEM小室及宽带TEM小室法 (IEC 61967-2:2005)

IEC 61967-2:2005 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第2部分：辐射发射测量 - TEM小室及宽带TEM小室法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method

标准号：IEC 61967-2:2005

发布日期：2005-09-29

IEC61967-2:2005的本部分规定了集成电路（IC）电磁发射测量的通用条件和定义，适用于频率范围从150kHz至1GHz的传导发射测量。它主要描述了使用1Ω/150Ω直接耦合法和法拉第笼法等方法进行测量的要求，为评估IC在正常工作状态下的电磁兼容性（EMC）提供标准化测试程序。该标准适用于需要进行电磁发射特性评估的各类集成电路。