IEC 62416:2010 半导体器件 - MOS晶体管热载流子测试
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
标准号：IEC 62416:2010
发布日期：2010-04-26
IEC62416:2010的适用范围如下：该标准规定了半导体器件在长期工作条件下，由高温导致的缓慢变化效应（如偏压温度不稳定性、热载流子注入等）的测试方法。它适用于评估集成电路和分立半导体器件的可靠性，特别是在高温偏压应力下的性能退化特性，为器件寿命预测和可靠性设计提供依据。
半导体器件 - MOS晶体管热载流子测试 (IEC 62416:2010)