半导体器件 - 用于能量收集与发电的半导体器件 - 第6部分：垂直接触模式摩擦电能量收集器件的测试与评估方法 (IEC 62830-6:2019)

IEC 62830-6:2019 半导体器件 - 用于能量收集与发电的半导体器件 - 第6部分：垂直接触模式摩擦电能量收集器件的测试与评估方法

Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 6: Test and evaluation methods for vertical contact mode triboelectric energy harvesting devices

标准号：IEC 62830-6:2019

发布日期：2019-07-25

IEC62830-6:2019的适用范围为：本文件规定了用于能量收集和储存的半导体器件中热电薄膜材料塞贝克系数的测试方法，适用于评估热电薄膜材料在温差作用下产生电压的性能。