半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 (GB/T 4937.41-2026)

标准号GB/T 4937.41-2026状态

发布于：2026-02-27

实施于：2026-09-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法基本信息

标准号：GB/T 4937.41-2026

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院、河北北芯半导体科技有限公司、电子科技大学、南京航空航天大学、得一微电子股份有限公司、华东师范大学、中国电子科技集团公司第三十二研究所、上海贝岭股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、浙江驰拓科技有限公司、深圳市源微创新实业有限公司、珠海妙存科技有限公司、中绍宣标准化服务（山东）有限公司、深圳市迈迪杰电子科技有限公司。

主要起草人 常艳昭 、宋国栋 、郭晓宇 、解维坤 、张凯虹 、王建超 、陈诚 、韩先虎 、顾玉娣 、季伟伟 、冯佳 、万永康 、虞勇坚 、吕栋 、路金朋 、印琴 、张猛华 、奚留华 、杨霄垒 、吴晨烨 、李秋枫 、秦虎 、郝香池 、鹿祥宾 、张肖 、颜佳辉 、杨少华 、李锟 、席善斌 、张欢 、戴志坚 、张颖 、陈鑫 、吴大畏 、廉鹏飞 、付仲满 、李刚 、徐中国 、任秋萍 、鲁鹏棋 、鲍斌 、赖鼐 、左仲元 、黄如金 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 (GB/T 4937.41-2026)