半导体器件 - 分立器件 - 第4部分：微波二极管和晶体管 (IEC 60747-4:2007)

IEC 60747-4:2007 半导体器件 - 分立器件 - 第4部分：微波二极管和晶体管

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors

标准号：IEC 60747-4:2007

发布日期：2007-08-23

IEC60747-4:2007的适用范围如下：本部分规定了半导体分立器件和集成电路中半导体器件的测试方法。它适用于各类半导体分立器件（如二极管、晶体管、晶闸管等）以及集成电路中的半导体元件，旨在为这些器件的电特性、热特性和可靠性测试提供统一的测量程序和条件要求，以确保测试结果的一致性和可比性。该标准主要用于制造商、测试实验室及相关行业在研发、生产和质量控制过程中对半导体器件进行性能评估与验证。