集成电路 - 电磁抗扰度测量 150 kHz 至 1 GHz - 第4部分：直接射频功率注入法 (IEC 62132-4:2006)

IEC 62132-4:2006 集成电路 - 电磁抗扰度测量 150 kHz 至 1 GHz - 第4部分：直接射频功率注入法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method

标准号：IEC 62132-4:2006

发布日期：2006-02-21

IEC62132-4:2006标准规定了集成电路（IC）在传导射频（RF）电磁干扰环境下的抗扰度测量方法，适用于评估IC在150kHz至1GHz频率范围内对传导射频干扰的抵抗能力。该标准主要针对采用直接射频功率注入法的测试，适用于各类集成电路，特别是那些在通信、汽车电子、工业控制等易受电磁干扰的应用场景中使用的器件。标准内容涵盖了测试设备、配置、程序及结果报告的要求，旨在为IC的抗扰度评估提供统一、可重复的测试方法。